Welcome to Prime-rel 測試設備 一款多功能的功率半導體器件環(huán)境老化實驗設備,主要用于功率半導體器件的環(huán)境老化
試驗壽命評估,比如Si/SiC/GaN材料IGBT/DIODE/MOSFET/IPM/HEMT/BJT/SCR等器件的HTGB/HTRB/H3TRB/HV-H3TRB試驗 高加速應力壽命試驗系統(tǒng)
高加速應力環(huán)境箱:支持不飽和控制、濕潤飽和控制、干濕球溫度控制,實時記錄試驗數(shù)據(jù)和曲線 功率器件無功老化綜合測試系統(tǒng) 高溫/常溫動靜態(tài)參數(shù)測試站、絕緣耐壓測試站、無功老化測試站、阻斷老化測試站、3D供度測試站和全尺寸測量測試站任意組合。測試線支持自動上下料和傳輸,并能輸出NG結果。 專門用于車規(guī)級模塊高溫反偏量產(chǎn)篩選設備,主要用于產(chǎn)品出廠前的高溫反偏量產(chǎn)篩選,剔除早期失效器件,可以支持手動測試或者全自動測試 車規(guī)級模塊高溫反偏量產(chǎn)篩選系統(tǒng) 多功率模塊全自動測試系統(tǒng)
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公司愿景:提供完整的功率器件檢測整體解決方案,幫助用戶打造全自動化、信息化的工廠,大幅提高測試效率、降低生產(chǎn)成本、加速產(chǎn)品上市時間。
核心團隊匯集中科院微電子所、海外業(yè)內(nèi)專家等一系列資深專業(yè)技術人才。
公司自成立以來,打造了研發(fā)+制造約4000平基地,申請專利60項以上,擁有雄厚的產(chǎn)業(yè)資源、運營資本、政策紅利,地方政府大力支持。
勇于創(chuàng)新、艱苦奮斗、團隊協(xié)作、客戶為本、心懷感恩、成就夢想。
全自動化、高集成化的智能檢測設備為基礎,結合成熟的工業(yè)物聯(lián)網(wǎng)技術(遠程監(jiān)控、云存儲、云計算),實現(xiàn)整個測試自動化和數(shù)據(jù)管理信息化。